Zeisssches Mikroskop zur Oberflächenprüfung (Rauheit) nach Prof. Schmaltz. Dabei trifft ein dünnes Lichtband unter einem Winkel von 45° auf die Oberfläche. Die Berührungslinie zwischen Lichtband und Oberfläche wird senkrecht zur Beleuchtungsrichtung betrachtet, wobei das Oberflächenprofil etwas überhöht erscheint; heute mit Laser ausgeführt.