AFM; bildgebendes Oberflächenanalyseverfahren; die Oberfläche wird mit einem Cantilever (Tastnadel) abgefahren. Zwei verschiedene Messmodi werden angewandt: im Kontaktmodus berührt die Spitze der Tastnadel die Probenoberfläche ständig; im Tapping-Modus wird sie in Schwingungen versetzt und berührt die Oberfläche periodisch. Die Auslenkung wird über einen Laser-Strahl aufgezeichnet und in ein topografisches Bild umgewandelt.