Eine aus dem Englischen übernommene Abkürzung; Rasterkraftmikroskop, manchmal auch Atomkraftmikroskop genannt. Es dient zur Topografieauflösung bis zu atomaren Strukturen. Mit einer an einem Hebel (Cantilever) befestigten Spitze wird die Fläche gleicher Bindungsstärke bestimmt und daraus ein Bild der Oberfläche gezeichnet.
Auch scanning force microscope, SFM genannt.